2026年全国电子显微学学术年会
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乔祎
北京科技大学 · 高级工程师
参加的场次(1 场)
10月18日 · 下午 · 14:25-14:50 · 第八分会场
聚焦离子束诱导的材料损伤行为与解决策略研究
报告人
乔祎(北京科技大学 高级工程师)