2026年全国电子显微学学术年会
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李雷
北京市理化分析测试中心 · 助理研究员
参加的场次(1 场)
10月18日 · 下午 · 15:30-15:50 · 第八分会场
低损伤TEM样品制备与微纳力学测试中的可靠性研究
报告人
李雷(北京市理化分析测试中心 助理研究员)