2026年全国电子显微学学术年会
日程
嘉宾
平面图
搜索
杨立新
中国科学院金属研究所 · 高级工程师
参加的场次(1 场)
10月17日 · 下午 · 15:10-15:30 · 第八分会场
FIB在二维材料领域的应用
报告人
杨立新(中国科学院金属研究所 高级工程师)