2026年全国电子显微学学术年会
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Eric Van Cappellen
赛默飞世尔科技(中国)有限公司 · 赛默飞高端透射电镜首席科学家
参加的场次(1 场)
10月17日 · 上午 · 11:00-11:20 · 主会场
Revisiting 2D,3D and field-free analysis
报告人
Eric Van Cappellen(赛默飞世尔科技(中国)有限公司 赛默飞高端透射电镜首席科学家)